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福大王心晨,最新PNAS!

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成果簡(jiǎn)介
缺陷工程(defect engineering)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體中,通過(guò)改變表面結(jié)構(gòu)來(lái)改善光催化性能?;诖?,福州大學(xué)王心晨教授團(tuán)隊(duì)報(bào)道了通過(guò)大量引入表面有序缺陷,將無(wú)活性的三氧化鎢(WO3)納米片轉(zhuǎn)化為高效的CO2制CH4光催化劑(WO3-x)。通過(guò)像差校正電子顯微鏡的表征,在非化學(xué)計(jì)量WO3-x樣品中周期性{013}層錯(cuò)的表面有序終止在原子水平上得到了解決。結(jié)果表明,{002}表面有序線缺陷是固定CO2的活性位點(diǎn),將無(wú)活性的WO3樣品轉(zhuǎn)化為高效的催化劑(CH4: O2=8.2: 16.7 μmol h-1),選擇性約95%。
此外,準(zhǔn)原位XPS光譜表征表明,在表面有序線缺陷上捕獲CO2分子是催化過(guò)程中的關(guān)鍵步驟。通過(guò)引入W-間隙缺陷調(diào)整表面電子結(jié)構(gòu)后,主要產(chǎn)物由CH4轉(zhuǎn)變?yōu)镃O。本研究為缺陷如何影響CO2光還原的催化活性和選擇性提供了原子水平上詳細(xì)和直接的答案,為光催化劑的表面原子設(shè)計(jì)提供了一個(gè)原型,以產(chǎn)生高附加值的反應(yīng)物。
研究背景
目前,將二氧化碳(CO2)轉(zhuǎn)化為高附加值燃料的光驅(qū)動(dòng)技術(shù)越來(lái)越受歡迎。通常,CO2分子的π軌道電子極化對(duì)于降低CO2的活化能至關(guān)重要,其可以降低最低未占據(jù)分子軌道(LUMO)的能量,使CO2分子的幾何構(gòu)型由線性向彎曲轉(zhuǎn)變。因此,催化劑表面激活CO2分子需要滿足不對(duì)稱的電子結(jié)構(gòu)、有限空間的位點(diǎn)以及與CO2分子的強(qiáng)相互作用。在各種改進(jìn)策略中,缺陷工程有效地調(diào)節(jié)催化劑的表面電子結(jié)構(gòu)以滿足這些條件,引起了廣泛關(guān)注。需注意,缺陷催化劑的特定表面電子態(tài)可決定反應(yīng)途徑,從而實(shí)現(xiàn)選擇性的CO2還原。
CO2分子吸附表面點(diǎn)缺陷的空間構(gòu)型可分為三種可能的配位態(tài):M-C、M-O和M-C-O-M(其中M代表催化劑表面不飽和原子)。雖然缺陷工作為光還原CO2研究提供了見(jiàn)解,但很少有研究關(guān)注平面缺陷終止產(chǎn)生的暴露配位結(jié)構(gòu)如何影響分子吸附和反應(yīng)途徑。當(dāng)晶格中同時(shí)存在多種缺陷類型時(shí),很難在原子水平上精確地構(gòu)建缺陷結(jié)構(gòu)并確定催化劑上的實(shí)際表面活性位點(diǎn),因此極大地限制了對(duì)缺陷獨(dú)特的電子結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)CO2吸附和轉(zhuǎn)化的分子動(dòng)力學(xué)機(jī)理的基本理解。
圖文導(dǎo)讀
在300 °C、400 °C和550 °C的不同溫度下,作者通過(guò)水熱法結(jié)合加氫方法合成了亞化學(xué)計(jì)量的WO3-x納米片。通常會(huì)導(dǎo)致金屬氧化物基光催化劑上形成各種類型的缺陷,用WO-N表示,其中N表示加氫溫度,并制備了原始的WO3納米片(記為WO-25)進(jìn)行比較。SEM圖像表明,與原始的WO-25納米片相比,還原的WO-N納米片保留了相似的形貌和晶粒尺寸。隨著加氫溫度的升高,WO-N樣品的顏色由黃色變?yōu)樯钏{(lán)色。XRD圖譜表明,WO-25、WO-300和WO-400樣品呈現(xiàn)單斜晶型γ-WO3晶體結(jié)構(gòu),而衍射峰展寬的WO-550樣品呈現(xiàn)明顯的單斜晶型WO2.9,并伴有宏觀顏色變化。隨著加工溫度的升高,WO-N納米片的缺陷濃度穩(wěn)步增加。WO-550納米片的CH4和O2生成速率分別高達(dá)8.2和16.7 μmol h-1,選擇性約為95%,且光催化性能在6 h內(nèi)保持穩(wěn)定。
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圖1. WO3-x光催化劑的表征及其光還原CO2性能
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圖2.原子水平表面有序線缺陷的可視化
具有表面有序線缺陷的WO-550納米片的導(dǎo)帶最小值(CBM)具有最大的負(fù)電位,高于CO2/CH4的還原反應(yīng)電位,表明WO-550納米片具有合適的能帶邊緣位置和增強(qiáng)的還原驅(qū)動(dòng)力,可實(shí)現(xiàn)光還原CO2和水氧化。時(shí)間分辨PL測(cè)量表明,WO-550納米片的光激發(fā)載流子的壽命顯著延長(zhǎng)至8.04 ns。WO-550納米片具有最強(qiáng)的光電流強(qiáng)度和最低的電荷轉(zhuǎn)移電阻,有利于光生載流子遷移到表面。WO-550納米片具有較高的表面光電壓有助于光激發(fā)電子-空穴對(duì)的電荷分離,表明表面有序線缺陷可作為捕獲光生電子的勢(shì)阱,限制光激發(fā)載流子的重組。
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圖3.WO3-x光催化劑物理化學(xué)性質(zhì)的表征
WO-25納米片的原位FTIR光譜峰強(qiáng)度可忽略,而WO-550納米片隨時(shí)間的增加出現(xiàn)多個(gè)明顯的峰,表明表面有序線缺陷可以吸附和活化CO2分子。隨后的10 min內(nèi),在1020 cm-1和1062 cm-1處出現(xiàn)了屬于CHO*和CH3O*基團(tuán)的吸收帶,它們是光還原CO2制CH4的關(guān)鍵中間產(chǎn)物。隨后,CHO*和CH3O*基團(tuán)傾向于破壞C-O鍵形成CH2*/CH3*基團(tuán),使得CH4選擇性達(dá)到~95%。認(rèn)為最可能的反應(yīng)途徑為:CO2 → CO2* → COOH* → CO* → CHO* → CH3O* → CH4。此外,WO-550納米片對(duì)于活化CO2分子具有最低的還原過(guò)電位,表明表面有序線缺陷作為活性位點(diǎn)有助于降低反應(yīng)勢(shì)壘。
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圖4.在模擬反應(yīng)條件下的準(zhǔn)原位光譜研究
通過(guò)密度泛函理論(DFT)計(jì)算,作者研究了(002)表面有序線缺陷對(duì)WO-550納米片催化行為的影響。WO-550模型的(002)表面有兩種4-配位W原子(記為Wa和Wb),而WO-25對(duì)應(yīng)的(002)表面末端有O原子。結(jié)合Bader電荷分析,嵌入的CO2從表面獲得約1.01 e,表明4-配位W原子具有很強(qiáng)的給電子能力,有利于CO2光還原。計(jì)算結(jié)果表明,對(duì)于具有表面有序線缺陷的WO-550樣品,COOH*中間體的形成是限速步驟。隨后的電子轉(zhuǎn)移會(huì)將COOH*分解為CO*和H2O,而不是在一個(gè)質(zhì)子下形成HCOOH*。吸收的CO*在WO-550樣品上的直接解吸,而進(jìn)一步氫化成CHO*是CH4析出的關(guān)鍵步驟。
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圖5.吉布斯自由能計(jì)算
文獻(xiàn)信息
Enriching surface-ordered defects on WO3 for photocatalytic CO2-to-CH4 conversion by water. PNAS, 2024,
DOI: /10.1073/pnas.2319751121.

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