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鮑哲南/崔屹等,,最新ACS Energy Letters!

研究背景

X射線光電子能譜(XPS)是電池研究中表征固體電解質(zhì)界面(SEI)的最常用技術(shù)之一。然而,殘留的鹽或溶劑會產(chǎn)生光譜偽影,使實際SEI化學(xué)的評估變得復(fù)雜。
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近日,斯坦福大學(xué)余維來博士、俞之奡博士、崔屹教授和鮑哲南教授等人介紹了三種不同鋰鹽的系統(tǒng)XPS研究,即雙(氟磺?;﹣啺蜂嚕↙iFSI)、雙(三氟甲磺酰基)亞胺鋰(LiTFSI)和六氟磷酸鋰(LiPF6)。總體而言,這組基準(zhǔn)研究不僅為峰值分配提供了有價值的參考,而且還強調(diào)了對照實驗的重要性,以避免在識別實際SEI組分時出現(xiàn)潛在的陷阱。

圖文解讀

在通過XPS真空去除大部分有機溶劑后,鋰鹽的表面膜直接由液體電解質(zhì)制備。與直接測量鋰鹽固體粉末相比,該樣品制備方法具有三個顯著優(yōu)勢:(1)在XPS 分析之前模擬了由于不完全洗滌而導(dǎo)致的殘留鹽的情況,(2)探測鋰鹽在液體電解質(zhì)中的潛在形態(tài)行為, 以及 (3) 量化沉淀鹽膜的表面和本體區(qū)域的殘留有機溶劑。重要的是,作者發(fā)現(xiàn)這三種鋰鹽表現(xiàn)出不同的結(jié)合能(BEs)和光譜特征,反映了它們獨特的化學(xué)環(huán)境和物種形成行為。通過比較它們在 Ar+ 濺射前后的 XPS光譜,作者系統(tǒng)地發(fā)現(xiàn)了高能束誘導(dǎo)所有三種鋰鹽的人工LiF形成。
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圖1. 從液體電解質(zhì)中沉淀的原始鹽膜的高分辨率X射線光電子能譜
在Ar+濺射之前,首先通過XPS對三種鋰鹽的原始表面膜進行表征,以測定其組成元素的BE值(圖 1)。F 1s和N 1s光譜分別在688.0和399.9 eV的BE處顯示出不同的LiFSI峰,而其S 2p光譜在BE =170.3 eV處顯示出單個雙峰(圖1a-c)。在分配給LiF的F 1s光譜中也看到了BE = 684.8 eV的小峰。測得的所制備的LiFSI薄膜的N:S:F:O原子比與LiFSI = 1:2:2:4的元素化學(xué)計量非常匹配。同樣,分配給LiTFSI鹽的F、S和N原子的不同峰分別出現(xiàn)在BE = 688.5、169.2和399.7 eV(圖 1d-f)處。在F 1s光譜中再次看到了一個小的LiF肩峰(圖 1d)。此外S 2p和N 1s X射線光電子能譜分別在166.8 和 398.8 eV的較低BE處表現(xiàn)出額外的明顯峰。這些特征意味著 TFSI 陰離子分解為 C-SOx 和 N-SOx 物質(zhì)。這些 -SOx 峰相對于LiTFSI峰的較低BE值可能與TFSI脫氟以產(chǎn)生LiF相關(guān)。此外,測得的所制備的LiTFSI薄膜的N:S:O原子比為1:2.5:6,而LiTFSI的N:S:O化學(xué)計量應(yīng)為1:2:4。因此,相對于N原子的額外S和O原子對應(yīng)于N-S鍵斷裂后LiTFSI表面上C-SOx物質(zhì)的富集(圖 1e)。
在Ar+濺射后,所有三種鋰鹽的F 1s X射線光電子光譜中LiF峰的強度均顯著增加(圖2)。對于LiFSI和LiTFSI,濺射后F的相對原子百分比也顯著增加,證實了表面LiF富集。對于這兩個樣品,LiF峰在濺射后變得更加突出,相對于分配給鹽的那些峰(圖 2a,b)。
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圖2. Ar+濺射促進鹽降解形成LiF
三種鹽的去卷積C 1s X射線光電子光譜的比較如圖3所示。LiFSI薄膜在濺射之前僅顯示無定型碳(BE≈284 eV)(圖 3a)。在Ar+濺射之后,C 1s信號的消失表明在XPS真空下從LiFSI鹽中完全去除了DME溶劑。相比之下,濺射前LiTFSI 薄膜的C 1s XPS光譜在286和284 eV處分別表現(xiàn)出明顯的C-O和C-C/C-H鍵的峰(圖3b),這意味著 DME 溶劑的表面殘留物。Ar+濺射后,C 1s光譜僅顯示歸屬于LiTFSI的C-F鍵(BE≈293 eV)的峰,以及歸屬于C-S鍵的BE≈288 eV 的寬峰。由于在BE≈284 eV處不存在任何C-C/C-H鍵,因此排除了大部分 LiTFSI薄膜中DME的存在。在LiPF6樣品的表面,C 1s光譜顯示歸屬于C-C、C-O 和C=O鍵的峰,共同歸屬于殘留的EC/DEC溶劑(圖3c)。與LiFSI和LiTFSI 樣品不同,即使在長時間的Ar+濺射之后,這些碳酸酯特征仍然存在并演變,這意味著在體相LiPF6樣品中存在有機殘留物。與C=O或C-C/C-H鍵相比,C-O鍵的峰強度增加也表明在Ar+濺射下碳酸酯會分解。
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圖3. 高分辨率C 1s X射線光電子能譜比較
這組基準(zhǔn)測量為在未來電池研究中對SEI化學(xué)進行更穩(wěn)健和謹慎的XPS分析提供了重要意義。

文獻鏈接

Weilai Yu,?Zhiao Yu,?Yi Cui,?and?Zhenan Bao* Degradation and Speciation of Li Salts during XPS Analysis for Battery Research. ACS Energy Lett. 2022, 7, XXX, 3270–3275, https://doi.org/10.1021/acsenergylett.2c01587

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